金屬鑄件業(yè)中常見問題及解決方法

一、金屬鑄件產(chǎn)生針孔現(xiàn)象 預(yù)防產(chǎn)生針孔的措施：嚴禁使用被污染的鑄造鋁合金材料、沾有有機化合物及被嚴重氧化腐蝕的材料；控制熔煉工藝，加強除氣精煉；控制金屬型涂料厚度，過厚易產(chǎn)生針孔；模具溫度不宜太高，對鑄件厚壁部位采用激冷措施，如鑲銅塊或澆水等；采用砂型時嚴格控制水分，盡量用干芯。 二、金屬型鑄件常出現(xiàn)氣孔現(xiàn)象 預(yù)防氣孔產(chǎn)生的措施：修改不合理的澆冒口系統(tǒng)，使液流平穩(wěn)，避免氣體卷入；模具與型芯應(yīng)預(yù)先預(yù)熱，后上涂料，結(jié)束后必須要烘透方可使用；設(shè)計模具與型芯應(yīng)考慮足夠的排氣措施。 三、金屬型鑄件常出現(xiàn)氧化夾渣現(xiàn)象 預(yù)防氧化夾渣的措施：嚴格控制熔煉工藝，快速熔煉，減少氧化，除渣徹底；Al-Mg合金必須在覆蓋劑下熔煉；熔爐、工具要清潔，不得有氧化物，并應(yīng)預(yù)熱，涂料涂后應(yīng)烘干使用；設(shè)計的澆注系統(tǒng)必須有穩(wěn)流、緩沖、撇渣能力；采用傾斜澆注系統(tǒng)，使液流穩(wěn)定，不產(chǎn)生二次氧化；選用的涂料粘附力要強，澆注過程中不產(chǎn)生剝落而進入鑄件中形成夾渣。 四、金屬型鑄件常出現(xiàn)熱裂現(xiàn)象 預(yù)防產(chǎn)生熱裂的措施：實際澆注系統(tǒng)時應(yīng)避免局部過熱，減少內(nèi)應(yīng)力；模具及型芯斜度必須保證在2°以上，澆冒口一經(jīng)凝固即可抽芯開模，必要時可用砂芯代替金屬型芯；控制涂料厚度，使鑄件各部分冷卻速度一致；根據(jù)鑄件厚薄情況選擇適當?shù)哪?；細化合金組織，提高熱裂能力；改進鑄件結(jié)構(gòu)，消除尖角及壁厚突變，減少熱裂傾向。 五、金屬型鑄件常出現(xiàn)疏松現(xiàn)象 預(yù)防產(chǎn)生疏松的措施：合理冒口設(shè)置，保證其凝固，且有補縮能力；適當調(diào)低金屬型模具工作溫度；控制涂層厚度，厚壁處減??；調(diào)整金屬型各部位冷卻速度，使鑄件厚壁處有較大的激冷能力；適當降低金屬澆注溫度。

重力鑄造廠--鑄件內(nèi)部缺陷的檢測方法

對于內(nèi)部缺陷，常用的無損檢測方法是射線檢測和超聲檢測。其中射線檢測效果 ，它能夠得到反映內(nèi)部缺陷種類、形狀、大小和分布情況的直觀圖像，但對于大厚度的大型鑄件，超聲檢測是很有效的，可以比較精確地測出內(nèi)部缺陷的位置、當量大小和分布情況。 1、射線檢測（微焦點XRAY） 射線檢測，一般用X射線或γ射線作為射線源，因此需要產(chǎn)生射線的設(shè)備和其他附屬設(shè)施，當工件置于射線場照射時，射線的輻射強度就會受到鑄件內(nèi)部缺陷的影響。穿過鑄件射出的輻射強度隨著缺陷大小、性質(zhì)的不同而有局部的變化，形成缺陷的射線圖像，通過射線膠片予以顯像記錄，或者通過熒光屏予以實時檢測觀察，或者通過輻射計數(shù)儀檢測。其中通過射線膠片顯像記錄的方法是 常用的方法，也就是通常所說的射線照相檢測，射線照相所反映出來的缺陷圖像是直觀的，缺陷形狀、大小、數(shù)量、平面位置和分布范圍都能呈現(xiàn)出來，只是缺陷深度一般不能反映出來，需要采取特殊措施和計算才能確定?，F(xiàn)在國際鑄業(yè)網(wǎng)出現(xiàn)應(yīng)用射線計算機層析照相方法，由于設(shè)備比較昂貴，使用成本高，目前還無法普及，但這種新技術(shù)代表了高清晰度射線檢測技術(shù)未來發(fā)展的方向。此外，使用近似點源的微焦點X射線系統(tǒng)實際上也可消除較大焦點設(shè)備產(chǎn)生的模糊邊緣，使圖像輪廓清晰。使用數(shù)字圖像系統(tǒng)可提高圖像的信噪比，進一步提高圖像清晰度。 2、超聲檢測 超聲檢測也可用于檢查內(nèi)部缺陷，它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件內(nèi)部的傳播中，碰到內(nèi)部表面或缺陷時產(chǎn)生反射而發(fā)現(xiàn)缺陷。反射聲能的大小是內(nèi)表面或缺陷的指向性和性質(zhì)以及這種反射體的聲阻抗的函數(shù)，因此可以應(yīng)用各種缺陷或內(nèi)表面反射的聲能來檢測缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。超聲檢測作為一種應(yīng)用比較廣泛的無損檢測手段，其主要優(yōu)勢表現(xiàn)在：檢測靈敏度高，可以探測細小的裂紋；具有大的穿透能力，可以探測厚截面鑄件。其主要局限性在于：對于輪廓尺寸復(fù)雜和指向性不好的斷開性缺陷的反射波形解釋困難；對于不合意的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，例如晶粒大小、組織結(jié)構(gòu)、多孔性、夾雜含量或細小的分散析出物等，同樣妨礙波形解釋；另外，檢測時需要參考標準試塊。